13967146609
13967146609
科賦關(guān)于我們
2011
公司成立于2011年
24
24h快速響應(yīng)
365
用心服務(wù)每一天科賦資訊信息
我們堅(jiān)持技術(shù)創(chuàng)新驅(qū)動未來發(fā)展，憑借質(zhì)量和服務(wù)優(yōu)勢，贏得客戶信賴！
進(jìn)口輪廓儀作為精密測量儀器，在表面形貌檢測領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。其技術(shù)特點(diǎn)和廣泛的應(yīng)用范圍，使其成為工業(yè)和科學(xué)研究中重要的工具。??一、技術(shù)特點(diǎn)??具有高精度的測量能力，能夠精確捕捉物體表面的微小變化。其測量系統(tǒng)采用光學(xué)或機(jī)械原理，確保檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。這種高精度特性使得儀器能夠滿足對表面質(zhì)量要求較高的檢測需求。儀器的測量范圍廣泛，能夠適應(yīng)不同尺寸和形狀的樣品檢測。無論是平面、曲面還是復(fù)雜幾何形狀的表面，都能夠進(jìn)行精確測量。測量速度快捷，能夠在短時(shí)間內(nèi)完成大量數(shù)據(jù)的采集...
原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,AFM)是一種基于探針與樣品表面相互作用的高分辨率顯微技術(shù)，能夠在納米尺度上對樣品進(jìn)行三維形貌測量和多種物理、化學(xué)性質(zhì)分析。其核心優(yōu)勢在于無需真空環(huán)境、可測量多種材料(包括絕緣體)，且能提供遠(yuǎn)超光學(xué)顯微鏡的分辨率(橫向分辨率達(dá)0.1-0.2納米，縱向分辨率達(dá)0.01納米)。以下是AFM的主要測量功能及應(yīng)用場景：一、表面形貌測量1、三維形貌重構(gòu)通過探針掃描樣品表面，記錄探針垂直位移(Z軸信號)，生成高分辨率的三維表面圖像...
蔡司掃描電鏡是材料科學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域的重要觀察工具，能夠提供高分辨率的表面形貌圖像。掌握正確的操作方法和樣品制備技巧，對獲得高質(zhì)量的觀察結(jié)果至關(guān)重要。??一、操作指南??操作蔡司掃描電鏡時(shí)，先要確保儀器處于穩(wěn)定的工作狀態(tài)。開機(jī)后需要給予適當(dāng)?shù)念A(yù)熱時(shí)間，使電子光學(xué)系統(tǒng)達(dá)到較佳工作條件。在正式觀察前，要進(jìn)行電子槍、探測器等關(guān)鍵部件的功能檢查，確保儀器各項(xiàng)參數(shù)正常。樣品臺的定位和移動需要謹(jǐn)慎操作。將樣品放置在樣品臺上時(shí)，要確保位置準(zhǔn)確且固定牢固，避免觀察過程中發(fā)生位移。通過控制樣品...
三豐粗糙度儀(以SJ-210為例)的校準(zhǔn)步驟如下：準(zhǔn)備階段放置標(biāo)準(zhǔn)塊：將校準(zhǔn)用的標(biāo)準(zhǔn)粗糙度塊(表面切削紋路需垂直于檢出器測量方向)放置在校準(zhǔn)支架上，確保其穩(wěn)固且位置準(zhǔn)確。安裝儀器：將三豐粗糙度儀(如SJ-210)的驅(qū)動部(含探頭)輕輕放置在標(biāo)準(zhǔn)塊上，確保探頭與標(biāo)準(zhǔn)塊表面接觸良好且垂直。進(jìn)入校準(zhǔn)模式開機(jī)與導(dǎo)航：按下儀器電源鍵開機(jī)，等待自檢完成后，通過按鍵(如Home→MainMenu)進(jìn)入主菜單界面。選擇校準(zhǔn)測量：在主菜單中找到并選擇“Calib.Meas.”(校準(zhǔn)測量)選項(xiàng)，...
多彩生活，與您共同成長
以客戶為中心，精心、細(xì)心、用心，讓客戶輕松享受高品質(zhì)的服務(wù)
對每一位用戶負(fù)責(zé)，竭誠為用戶提 供好的、合格的、可靠的產(chǎn)品。以用戶為中心、以人才為根本，努力實(shí)現(xiàn)你我共贏。售前、售中、售后完整服務(wù)體系， 保障客戶的利益。
查看更多
專業(yè)售后團(tuán)隊(duì)為您服務(wù)
7*24小時(shí)隨時(shí)為您服務(wù)
三坐標(biāo)及自動化檢測線 粗糙度輪廓儀、測高儀 直讀光譜儀 金相顯微鏡 光學(xué)軸類測量儀 測長機(jī)、投影儀、影像儀 原子力顯微鏡 圓度儀、圓柱度儀 掃描電子顯微鏡 工具顯微鏡 測厚儀系列 硬度計(jì)系列 試驗(yàn)機(jī)系列
掃一掃，添加微信
版權(quán)所有©2025 杭州科賦機(jī)電設(shè)備有限公司 備案號：浙ICP備2021005838號-1 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng)
